L'analyse MEB-EDX (Microscopie Électronique à Balayage - Spectroscopie de Dispersion d'Énergie des Rayons X)
SON PRINCIPE
Le MEB produit des images tridimensionnelles de la surface des échantillons avec une résolution pouvant atteindre quelques nm et une très grande profondeur de champ. La composition d'une image peut être obtenues à partir d'un détecteur d'électrons secondaires (contraste « topographique » mode SE) et d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (contraste « chimique » mode BSE).
La différence se trouve dans l’origine du contraste qui en mode BSE est liée à la nature des éléments présents (exemple : plus l’élément est lourd comme le plomb plus la zone est claire).
L'EDX, quant à elle, permet d'identifier les éléments chimiques présents dans l'échantillon à partir des rayons X émis lorsqu'il est bombardé par un faisceau d'électrons. Cette technique fournit des informations sur la composition chimique de l'échantillon à l'échelle microscopique, et peut également être utilisée pour cartographier la distribution spatiale des éléments chimiques.
SES AVANTAGES
- Analyse élementaire à partir du carbone (C)
- Technique de surface, sans desctruction de l'échantillon
- Analyse possible sur des micro-échantillons
- Etude des couches stratigraphiques, préparation simple
En combinant la MEB et l'EDX, on peut obtenir des informations sur la morphologie, la structure et la composition chimique d'un échantillon, ce qui en fait une technique très utile pour l'analyse de matériaux dans divers domaines.
Exemple d'application
- L'étude des couches Galvanisées
- L'étude de particules, granulométrie
- L'étude de peinture et couches stratigraphique
- Absence de métaux lourds
- Analyse de nanoparticules
- L'étude de présence de fibres d'amiante
